虹科提供多款高精尖测试产品，满足您的多样化需求
高精度数据采集方案，打破传输速度的障碍
提供快速的应用开发框架和测试执行环境
无需编程进行数据采集、测量和分析
多通道，高精度，大范围数据采集监测
复杂测试和尖端应用的最理想信号仿真模块
基于PXI/PXIe/PCI/LXI平台的多种开关及板卡
虹科一站式交钥匙解决方案
虹科基础元件老化测试系统主要用于元件老化测试，通过给元件施加电压，同时施加高温和高湿的环境，来加速元件的老化，测试可靠性。系统采用模块化设计，支持通道扩展。
虹科致力于为您提供集成的、定制化的解决方案
虹科为客户提供数千种基于PXI、PCI、LXI的功能模块，涵盖了程控开关，程控电阻，传感器仿真，数字IO，数字化仪、任意波形发生器等多种产品，可以满足客户多样性需求。
如果您需要完整的测试系统，虹科的技术团队可以给您提供一站式的交钥匙服务，即由我们根据项目需求来完成软硬件的开发和调试，客户可以轻松实现开箱即用。
如果您有更为复杂的需求，而目前的货架产品无法满足需求，虹科成熟的技术团队可以根据您的项目需求为您提供完善的解决方案以及相应的高效的定制服务。
如果您需要完整的测试系统，虹科的技术团如果客户对于产品的基础知识、使用方法或者相关行业的技术标准等有疑问，虹科提供收费或者免费的各种培训机会，并且可以提供上门培训，解决您的后顾之忧。
传播技术、共同学习
