使用PXI微波开关进行测试

利用Pickering的64x4 FET PXI多路复用器

目标:

使测量Radiall微波开关性能的20多个测试台的测试能力增加一倍。在交付给客户之前,每个Radiall微波开关都需要在不同气候条件下的测试室内对接触特性进行全面测试。升级后的测试平台需要提高交换机的容量,测试速度和灵活性。在经历热循环的同时,Radiall微波开关需要在气候室内长时间运行。每个测试台都需要能够在同一测试运行期间管理各种不同的微波开关。

使用PXI微波开关进行测试插图

参与公司:

法国微波开关制造商Radiall和系统的最终用户Radiall对供货商提出的各种解决方案进行了所有评估工作。

系统整合商Mesulog和Pickering Interfaces合作提供了一个集成的PXI解决方案,该解决方案可以进行评估并与其他竞争解决方案进行比较。

测试方法:

提议每个测试台基于PXI解决方案,其中包括条形码扫描仪以识别被测部件,PXI DMM执行接触电阻的四端电阻测量,Pickering Interfaces PXI多路复用器路由DMM进行测量DUT的接触特性,以及基于NI LabVIEW和Test Stand的软件环境。

一项重大挑战是如何选择合适的PXI开关系统,以允许DMM对室内微波设备执行四端电阻测量。需要进行四端子测量,以使DMM能够独立于连接线和开关中的电阻来测量电阻。DMM必须处理多个设备,每个设备都有多个触点,因此交换系统必须灵活。由于测试台可以连续使用多年,因此还需要较长的使用寿命。

解决切换问题:

当时市场交换系统没有明显卓越的选择-同时满足三项关键指标:速度,可靠性和准确性。Mesulog评估了许多方法,所有方法都有折衷。最后,Pickering Interfaces和Mesulog合作基于64×4 FET的多路复用器定义了解决该问题的新方法。FET的使用实际上提供了无限的使用寿命,而四端测量的使用抵消了FET开关固有的任何路径电阻。

积极的评估和成功的合作:

在软件和硬件级别上使用市场上可用的标准产品,使集成商能够提供灵活且用户友好的微波开关测试系统。与其他继电器技术相比,通过FET开关的PXI架构实现了无与伦比的速度执行,同时具有无限的生命周期。

由于产品的可用性,架构的速度,占用空间小和具有成本效益的解决方案,PXI是一个合理的选择。最重要的是20个测试台正在向这种新架构迁移。同样,该相同的体系结构将用作重铸RADIALL太空部门使用的另一种工作台的核心。

Measulog和Pickering Interfaces之间的合作以及与Radiall的紧密合作确保了PXI在测试平台上的成功实施。PXI的使用使集成变得容易,快速,并为最终客户带来了良好的体验。

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