Hongke
动态控制高速数字I/O PXI卡
- 32个双向I/O引脚(16个卡可以为512个引脚串在一起)
- 3 MB或12 MB的板载内存
- 外部和可编程的内部时钟速率从5赫兹到50兆赫
- 动态控制的音序器支持分支，循环，子程序，和先进的功能，为ut同步
- 多种I/O选项包括TTL、PECL、LVDS和可编程级别
HK-GX5050
HK-GX5050是一款高速动态数字I/O卡，提供了一整套可与大型功能测试系统中的高速I/O产品相媲美的功能。
该卡与GC5050共享相同的架构，但HK-GX5050是PXI卡(6U)， GC5050是PCI卡。两者都具有在RUN模式下独立于主机运行的能力。
HK-GX5050提供实时数字刺激和捕获，每卡32个引脚。多达16张卡片可以被菊状连接，总共多达512个引脚。32个引脚可以配置为8个输入或输出组。每个组的方向可以动态地改变与序列器，外部，或通过两种方法。还有一个16位的外部总线，用于触发和同步外部事件。
时钟和频闪信号通过菊花链带状电缆分发到卡上。这些信号可以在内部或外部产生。外部控制信号允许与被测单元(UUT)完全同步，并尽量减少测试的初始化部分。
算法测序技术(AST™)
一个创新的，最先进的算法定序器允许用户创建循环和分支来操纵输出矢量。所有的序列命令可以使用外部事件总线条件，并可以使用图形矢量编辑器使用Windows®API命令或通过脚本语言编程。这使HK-GX5050能够以最大测试速率无限地生成测试向量。内部和外部触发和暂停命令在几种模式下可用。
板载内存
板载内存可配置为3 MB或12 MB，用户可升级。为输出数据、响应数据和测试步骤排序命令提供了单独的内存。用于响应数据的独立内存允许应用程序独立于双向模式读取UUT引脚上的活动。这是大多数高速数字I/O仪器所缺乏的一个重要特性。
兼容性
HK-GX5050可在任何6U PXI插槽中工作，提供3.3 V和5 V电源，并与Marvin Test Solutions GT50和GT25测试向量兼容。此外，固件可以使用独特的系统编程前面板进行升级。
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I / O模块>>
HK-GX5050提供各种输入和输出电平的I/O模块，满足任何数字测试应用的要求，包括TTL, PECL, ECL，可编程电平，LVDS和自定义模块。订购HK-GX5050时必须指定I/O模块类型和内存大小。
I/O模块 | 通道数 | 级别 |
32 | 5 V and 3.3 V logic | |
32 | Positive ECL | |
32 | LVDS | |
32 | 0.3 V to 9 V |
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配置>>
HK-GX5050可以配置为Master或Slave。主站为多达15个从站提供定时信号。
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编程和软件>>
该板提供了GTDIO/DIOEasy，一个软件包，包括矢量编辑，虚拟仪表板和32/64位DLL驱动程序库和文档。虚拟面板可用于交互式编程，并从显示仪器当前设置和状态的窗口控制仪器。此外，还提供了接口文件，以支持访问编程工具和语言，如ATEasy, LabView, C/ c++， Microsoft Visual Basic®，Delphi和Pascal。联机帮助文件和PDF用户指南提供文档，包括安装，使用和编程板的说明。
应用
HK-GX5050应用包括自动测试设备(ATE)、高速功能数字测试、向量捕获、混合和数字设备测试、内存测试、事件顺序器，逻辑模式捕获、数码选择指南等。
自动测试设备
（ATE）
