Hongke
每通道可编程逻辑电平和 PMU 的动态数字I/O
- 32 个输入/输出通道，可按通道动态配置
- 4 个具有可编程级别的控制/定时通道
- 256 MB 板载矢量内存
- 每通道驱动/感测电压范围为 -2 V 至 +7 V，每个引脚带有 PMU
- 100 MHz 矢量速率
- 刺激/响应和实时比较模式
- 非常适合用于基于 PXI 的半导体测试
HK-GX5295
HK-GX5295 采用紧凑的 3U PXI 外形，提供出色的数字测试功能和通道密度。 HK-GX5295 提供高性能数字和模拟测试功能，提供经济高效的每引脚测试器架构 - 使该卡成为高吞吐量、混合信号组件测试应用的理想选择。 每个数字通道都可以单独编程为驱动高、驱动低、感测高、感测低和负载值（具有换向电压电平）。 此外，每个通道还提供参数测量单元 (PMU)，使用户能够在 DUT（被测设备）上执行并行直流测量。
HK-GX5295 通过提供 256 MB 板载矢量存储器（具有动态每引脚方向控制）和高达 100 MHz 的测试速率来支持深度模式存储器。 该板支持刺激/响应和实时比较操作模式，允许用户最大限度地提高测试吞吐量，对需要深度内存测试模式的组件和 UUT 进行通过/不通过测试。 单板设计支持主设备和从设备功能，无需使用附加模块。
HK-GX5295 的引脚电子资源在每个通道上都是独立的，并且包括用于 DUT 直流特性分析的全功能 PMU。 PMU 可以在强制电压/测量电流或强制电流/测量电压模式下运行。 此外，驱动器和接收器可配置为支持来自/至 UUT 的差分输入和输出信号。 采用窗口方法进行内存访问，将每块板所需的 PCI 内存空间限制为仅 16 MB，从而节省了测试系统资源。 还支持直接模式，用于测试系统控制器和 HK-GX5295 的 I/O 引脚之间的连续数据传输。
HK-GX5295 提供 256 MB 向量内存，每个通道 64 Mb。 可编程 I/O 宽度允许用向量宽度换取向量深度。 在软件控制下，HK-GX5295的矢量存储器可配置为支持32、16、8、4、2和1通道宽度，相应的矢量深度为64 Mb、128 Mb、256 Mb、512 Mb、1024 Mb和2048 Mb。
HK-GX5295提供可编程LVTTL输出时钟和选通脉冲，并支持外部时钟和选通脉冲。 可编程 PLL（锁相环）提供可配置的时钟频率和延迟。 此外，还有 4 个额外的引脚电子资源可用作定时和/或控制资源 - 提供 -2 至 +7 V 的可编程驱动和感应电平。
HK-GX5295 的定序器可以在定义的地址上暂停或暂停，或者循环遍历整个内存，以及循环定义的地址范围或定义的内存块。 还支持两种数字测试模式 - 刺激/响应和实时比较模式。 刺激/响应模式用于驱动和捕获数据。 或者，对于需要长测试向量的数字测试，实时比较模式可用于通过实时比较预期测试结果并仅记录失败向量和结果测试结果（通过或失败）来显着缩短总体测试时间。
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编程和软件>>
HK-GX5295 附带 DIOEasy，它提供强大的图形矢量开发/波形显示工具以及虚拟仪器面板、32 位 DLL 驱动程序库和文档。 虚拟面板可用于从显示仪器当前设置和状态的窗口交互式控制和监视仪器。 此外，各种接口文件还提供对编程工具和语言（例如 ATEasy、C/C++、Microsoft Visual Basic®、Delphi 和 LabVIEW）的仪器函数库的访问。
或者，DtifEasy 可用于 HK-GX5295。 DtifEasy 提供完整的 LASAR 后处理器和测试执行环境，用于后处理和执行 LASAR 生成的 .tap 文件。
应用
HK-GX5295应用包括自动测试设备（ATE）、半导体测试、显示器、打印机和磁盘驱动器测试、ASIC 测试、A/D 和 D/A 测试、视频采集/回放应用、高速、双向总线测试/仿真等。
自动测试设备
（ATE）
