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HK-IDPS750
- 扩展泰瑞达 J750™ 的低成本替代方案
- 为测试仪增加多达 256 个独立器件电源，从而提高并行测试能力
- 与 IG-XL™ 软件集成
- 通过硬件校准因子缩短编程和设置时间
- 多达 256 个通道
- 每个通道 600 mA
- 使用通道合并功能，电流最高可达 2 A
- 已安装超过 150 套系统
如今，成本效益比以往任何时候都更加重要。许多制造商都在努力实现多站点测试的最大化。由于测试仪资源有限，通常无法高效地实现最大化。
独立器件电源 (HK-IDPS) 可以扩展您现有的自动测试设备 (ATE)，提供多达 256 个独立 DPS 源，以增加并行测试。它提供力电压 (FV) 和测量电流 (MI)，可用于连续性测试、参数电源电流 (IDD) 和静态电源电流 (IDDQ) 测量，或仅用于为被测器件供电。HK-IDPS750 的目标是降低智能卡、存储器、微处理器和 FPGA 等广泛应用的测试成本。HK-IDPS750 的设计使其适用于需要大量资源的应用，或原始 ATE 电源不符合所需规格的应用。
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IDPS750 系统配置>>
系统由一个 19 英寸主机组成，其中包含系统电源、控制接口和 DPS 板模块。DPS 板模块由 16 个通道组成，每个通道都有自己的电流测量电路和量程选择。16 个通道的电流箝位均可编程。每个模块还包含 16 个通道各自的参考电压。
HK-IDPS750 将通过特殊定制的电缆连接到设备接口板 (DIB)。控制接口负责测试仪与 HK-IDPS750 系统之间的通信。这就为电流箝位、电流测量电路、电压基准、校准系数、限值设置和继电器开关提供了控制能力。所有设置均可在正常的测试仪环境中进行控制。系统自带校准和诊断软件，以确保功能性和准确性。
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改进型校准板（修订版 2a）>>
HK-IDPS750 新的校准板更易于使用，其构造提高了可靠性和耐用性。J750-pogotower的着陆垫面积更大，测试点指示器经过重新设计，新校准板手柄保证了更快的处理速度。我们还用光电金属氧化物半导体（PhotoMOS）取代了旧的场效应晶体管（FET），以满足最新的行业标准。
· 可定制
虹科可以调整 HK-IDPS750 系统，使其符合几乎所有客户的规格要求，而无需大量投资。如果规格不完全符合您的要求，请与我们联系。
