GC5050:动态控制高速数字I/O PCI板卡

  • 32个双向I / O引脚(可支持16张卡菊花链式连接,总共512个引脚)
  • 3 MB或12 MB的板载内存
  • 外部和可编程的内部时钟频率从5 Hz到50 MHz
  • 动态控制定序器支持UUT同步的分支,循环,子程序和高级功能
  • 多个I / O选项包括TTL,PECL,LVDS和可编程电平
  • 包括用于生成,编辑,捕获和比较复杂数字模式的图形矢量开发环境(DIOEasy)
GC5050:动态控制高速数字I/O PCI板卡插图

概述

GC5050时一款高速动态数字I/O卡,提供了大功能测试系统中所需求的IO产品相当的全部功能。该卡与GX5050有着相同的结构,但是GX5050是PXI卡(6U),GC5050是PCI卡,两者都能够在RUN模式下独立于主机运行。

特征

GC5050提供了实时数字激励和获取,每个板卡具有32个引脚。最多可以达到512个引脚,以菊花链式将16张卡连接在仪器中。每张卡的32个引脚可以以8个为一组,分为4组,进行每组的输入输出方向配置。定序器,外部源或者两者并用可以对引脚组方向进行更改。同时系统自带16位外部总线,用于外部时间的触发和同步。

时钟和选通信号通过菊花链带状电缆分配到各张卡上,这些信号可以在内部或外部产生。 外部控制信号允许与被测单元(UUT)完全同步,并将测试的初始化部分最小化。

算法测序仪技术(AST™)

创新的,最先进的算法序列器允许用户创建循环和分支来操纵输出向量。 所有定序器命令都可以使用外部事件总线进行调节,并且可以使用Windows®API命令或脚本语言使用图形向量编辑器进行编程。 这使得GX5050能够以最大测试速率无限期地生成测试向量。 内部和外部触发和暂停命令有多种模式。

板载内存

板载内存可配置为3 MB或12 MB,用户可升级。提供单独的存储器用于输出数据,响应数据和测试步骤排序命令。 用于响应数据的单独存储器使应用程序可以独立于双向模式读取UUT引脚上的活动。 这是大多数高速数字I/O仪器中缺少的一个重要特征。

兼容性

GC5050可在任何6U PXI插槽中工作,提供3.3 V和5 V电源,并与Marvin测试解决方案GT50和GT25测试矢量兼容。 此外,可以使用独特的在系统编程前面板升级固件。

I/O 模块

GC5050提供多种I/O模块,输入和输出电平满足任何数字测试应用的要求,包括TTL,PECL,ECL,可编程电平,LVDS和定制模块。由于类型较多,须在订购GX5050时指定I / O模块类型和内存大小。

I/O 模块通道电平
TTL325V 和3V逻辑
PECL32Positive ECL
LVDS32LVDS
可编程电平320.3-0.9V

配置

GC5050可在设置为主机或者从机。主机提供时间信号,最多只会支持15个从机。

软件

该板提供了GTDIO / DIOEasy,一个软件包,包括矢量编辑,虚拟仪器面板和32/64位DLL驱动程序库和文档。 虚拟面板可用于从显示仪器当前设置和状态的窗口交互式编程和控制仪器。 此外,提供了界面文件,以支持访问编程工具和语言,如ATEasy,LabView,C / C ++,Microsoft VisualBasic®,Delphi和Pascal。 在线帮助文件和PDF用户指南提供了包含安装,使用和编程板的说明。

应用

      • 自动测试设备(ATE)
      • 高速功能数字测试
      • 矢量获取
      • 混合和数字设备测试
      • 内存测试
      • 事件顺序器,逻辑模式捕获


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