解决方案

汽车测试

解决方案插图

汽车中的电子复杂度迅速增加,使得测试这些电子子组件非常困难。
我们使用PXI,PCI和LXI交换系统以及传感器仿真产品来解决汽车测试应用需求
这些范围从简单的车身控制器,ABS制动模块,仪表板测试,变速箱控制,安全气囊爆管,发动机管理单元,
汽车网络和BMS测试到主动安全和信息娱乐系统等等。

從簡單的車身控制器到發動機管理單元(EMU),幾乎所有ECU都需要信號切換和傳感器仿真,以進行適當的測試。對於電動機控制,開關可以是大電流;對於控制功能,開關可以是低電平。溫度和高度傳感器本質上是電阻性的,易於仿真以用於測試應用。隨著以汽油為動力的車輛向42 V電源平台移動,需要選擇更高的電壓開關。對於電動汽車,ECU上可能普遍存在400至600 V的電壓。

HILS可用於模擬ECU對外部故障條件(例如斷線或溫度傳感器故障)的反應,使您能夠在進行生產級別測試之前在虛擬環境中對ECU進行全面測試。使用我們的故障插入開關模塊,可以模擬所有可能的短路和斷路,應用錯誤的傳感器數據,並捕獲ECU反應,以查看設計是否按定義工作。無論測試的系統多麼複雜,您都可以以經濟高效的方式獲得更高的可靠性。 

在進行EMU和車身控制器測試時,模擬發動機艙和車廂中許多環境傳感器的電阻特性的能力非常重要。在測試控制安全氣囊的ECU時,能夠模擬車輛加速度計可以使測試驗證爆管是否會正確點火。Pickering具有PXI和PCI格式的最大範圍的   可編程電阻器解決方案,在多個通道上的分辨率均低至2mΩ,精度高達0.03%。我們還提供唯一的 應變儀仿真器 在PXI和PCI中都可以使用-現在您可以輕鬆地將應變儀測試納入與安全相關的ECU。

在環境室內對多個ECU進行測試需要共享外部儀器和資源,以在測試週期內刺激並從ECU收集數據。我們的 BRIC高密度交換矩陣 可以在8個PXI插槽中提供6144個交叉點,大小從4到32行和10到1104列不等。BRIC的IVI兼容驅動程序使集成到軟件包(例如我們的Switch Path Manager信號路由軟件)中成為一項簡單的任務  和National Switch’s Executive。此外,我們的固態多路復用器和矩陣產品線具有幾乎無限的開關壽命,因此非常適合進行極長的環境測試。如果您更喜歡使用LXI(以太網)或USB接口,則可以在我們的LXI模塊化機箱中使用超過1,000個PXI模塊(包括BRIC矩陣)  。我們還提供了高密度LXI矩陣(60-55X系列和 65-22x系列),它們具有與BRIC相同的功能,並且可以通過以太網連接進行操作。

電動汽車電池管理系統測試

隨著道路車輛中電動推進系統的日益普及,要應對的主要挑戰之一是電池管理系統(BMS)的有效測試。現在,我們提供  電池模擬器模塊(41-752型), 以方便BMS測試。

在測試車身控制器時,一項重要的測試是查看輸入是否響應骯髒且沒有正常開/關電阻的開關。我們的汽車 開關模擬模塊(型號40-480) 設計用於模擬多達32個汽車開關的運行,在這些汽車開關中,隨著年齡的增長,污染會導致接觸不良或漏電流。開關仿真功能可以測試汽車I / O設備在不利條件下的正確運行。

汽車不斷增加的功能集通常需要使用RF組件。藍牙,視頻,自適應巡航控制和無人駕駛汽車的5G等功能要求在測試中進行射頻和微波切換。我們提供  範圍從500 MHz到67 GHz的RF解決方案,因此我們可以用我們的標準產品滿足您絕大多數的RF和微波應用。

汽车测试案例

航空航天

航空航天和國防工業是模塊化測試平台的早期採用者。VXI是第一個成功的案例,它已經為這些行業服務了20多年。現在,隨著VXI測試系統變得過時,測試系統開發人員將PXI視為針對其行業的下一代模塊化平台。

我們已經開發了PXI交換和仿真模塊,可以復制以前的VXI交換配置,使您的集成工作變得更加容易。我們對PXI產品提供15至20年甚至更長的支持政策,意味著您的下一代測試系統將具有與其前代產品一樣長的使用壽命。在這裡可以查看對流行的VXI交換模塊交叉引用。

自1988年以來,我們一直在設計和製造用於航空航天和國防應用的商業和定制交換與仿真係統,從通用交換硬件在環仿真的故障插入高達67GHz的RF /微波交換,以及傳感器和應變計的模擬。當我們的產品範圍不適合您的應用時,我們將具有開發符合您的規格的系統所需的敏捷性和專業知識,而通常只需很少甚至沒有工程成本。 

我們的能力和專業知識是Lockheed Martin, Boeing, Northrop Grumman, Honeywell, Orbital Sciences, Rockwell Collins, BAE Systems, Ball Aerospace, NASA, Airbus认同的原因是因我们產品滿足其功能測試需求。

我們在航空航天和國防應用領域擁有豐富的經驗,包括飛機防雷測試HASS測試衛星有效載荷測試

半导体测试

對於集成電路製造商而言,不斷變化的設計規模,不斷縮小的幾何形狀以及新材料的使用使晶圓級可靠性測試變得比以往任何時候都更為重要。如果晶片有缺陷或封裝的設備發生故障,這將在生產過程的上游推動可靠性測試和建模,以減少時間,生產能力,金錢和材料損失。當面臨測試更高的I / O數量同時降低成本的問題時,許多可靠性工程師發現他們無法使用傳統的交換解決方案來解決這個問題。取而代之的是,工程師越來越傾向於可以擴展以適應其需求的模塊化,靈活的解決方案。 

Pickering的模塊化PXI和LXI矩陣切換解決方案已用於許多半導體測試應用中,包括封裝級和晶圓級測試,短路/開路,電容,用於瞬態電荷捕獲和SCPT(單電荷脈衝捕獲)的I / V測試。 

我們的半導體測試矩陣切換解決方案具有以下特點

  •  高保真連接 –  Pickering的儀器級幹簧繼電器 ,低路徑電阻,可重複連接
  • 多個模擬總線 –並行測試以提高吞吐量
  • 繼電器閉合計數高 –用於I / V測試的多個測試點接地

Amkor韓國分部正在指定一種新的測試系統-該系統的一部分將用於半導體封裝的開路和短路測試。為該任務定義了一個大型矩陣-3072×4矩陣開關配置,用於執行4線測量,I / V表徵以及2線測量。與許多測試應用程序一樣,需要以最低的價格獲得最高的性能。

解決方案:

在研究了他們的選擇之後,Amkor決定使用三個Pickering Interfaces LXI高密度矩陣模塊(型號60-553-008)。這些LXI矩陣模塊具有提供市場上最低價格並允許多達1027個同時閉合交叉點所需的EMR類型。 

Pickering接口LXI高密度矩陣(型號60-553-008)
Pickering接口LXI高密度矩陣(型號60-553-008)

此外,從測試系統集成商Testmation的角度來看,該LXI矩陣模塊包括Pickering的 BIRST(內置繼電器自測)功能,使其成為輕鬆快速維護支持的首選。 

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